IGBT及第三代半導體器件全參數測試

簡要描述：廣電計量專家團隊深入解讀IGBT測試相關標準，建立功率模塊可靠性驗證技術能力，可以為功率半導體產業上下游企業提供IGBT及第三代半導體器件全參數測試驗證報告。

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服務范圍

IGBT及第三代半導體器件全參數測試范圍：MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導體器件等分立器件，以及上述元件構成的功率模塊。

檢測標準

l AEC-Q101分立器件認證

l MIL-STD-750半導體器件試驗?法

l IEC60747系列SemiconductorDevices,DiscreteDevices

l GB/T29332半導體器件-分立器件-第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

l AQG324功率模塊?規認證

檢測項目

試驗類型	試驗項?
靜態參數	BVDSS、IDSS、IGSS、VGS(th)、RDS(on)、VDS(on)、VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、gfs、Vgs(pl)…
動態參數	td(on)、tr、td(off)、tf、Eon、Eoff、trr、Qrr、Irrm、dirr/dt、QG、QGC、QGE…
其他參數	Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOA…

相關資質

CNAS

服務背景

功率器件在新能源汽車、智能電網等領域有廣泛應用，其中，IGBT技術瓶頸不斷被打破，第三代半導體功率器件也開始由實驗室階段步?商業應用。通常這些新型器件測試要求更?的電壓和功率?平，更快的開關時間，對測試設備及人員技術要求?，在研發時間與成本的雙重壓力下，全參數測試成為不少制造商的難題。

我們的優勢

廣電計量積極布局新型IGBT及第三代半導體器件全參數測試業務，引進優質測試技術，為功率半導體產業上下游企業提供器件全參數檢測服務。同時，廣電計量通過構筑檢測認證與分析?體化平臺，為客?提供器件可靠性驗證及失效分析，幫助客戶分析失效機理，指導產品設計及?藝改進。

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